cris.boxmetadata.label.title
Strain analysis of In<inf>x</inf>Ga<inf>(1-x)</inf>N/GaN films by CBIM toward quantification
cris.boxmetadata.label.dateissued
01 browse.startsWith.months.january 2003
cris.boxmetadata.label.accesslevel
open access
cris.boxmetadata.label.resourcetype
conference paper
cris.boxmetadata.label.authors
Jiang B.
Geng L.J.
PONCE ANTUNEZ DE MAYOLO, FERNANDO AGUSTIN
Spence J.C.H.
cris.boxmetadata.label.publisher
Cambridge University Press
cris.boxmetadata.label.citationstartpage
860
cris.boxmetadata.label.citationendpage
861
cris.boxmetadata.label.volume
9
cris.boxmetadata.label.issue
SUPPL. 2
cris.boxmetadata.label.language
English
cris.boxmetadata.label.ocdeknowledgeArea
Física atómica, molecular y química
cris.boxmetadata.label.doi
10.1017/s1431927603444309
cris.boxmetadata.label.scopusidentifier
2-s2.0-0041920929
cris.boxmetadata.label.source
Microscopy and Microanalysis
cris.boxmetadata.label.containerissn
14319276
peru-layout.shadow-copies Directorio de Producción Científica Scopus