Title
Implementación de un sistema de medición de resistividad eléctrica en películas delgadas semiconductoras por el método de Van der Pauw
Date Issued
2017
Access level
open access
Resource Type
master thesis
Author(s)
Publisher(s)
Pontificia Universidad Católica del Perú
Language
Spanish
Subjects
Handle or URL
Advisor(s)
Type of research work
Tesis
Degree or title name
Maestro
Granting institution
Sources of information:
Directorio de Producción Científica